921X光纜在接續(xù)過程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)

921X光纜在接續(xù)過程中產(chǎn)生的大衰耗點(diǎn)
在921X光纜接續(xù)過程中，產(chǎn)生大衰耗點(diǎn)是經(jīng)常發(fā)生的，我們一般用OTDR（光時(shí)域反射儀）進(jìn)行監(jiān)測，即每熔接一根光纖，都用OTDR測試一下熔接點(diǎn)的衰耗值，具體測試時(shí)，采用雙向監(jiān)測法，由于光纖制造過程中存在的差異性，兩根光纖不可能*一致，總是存在模場直徑不一致現(xiàn)象，從而導(dǎo)致了用OTDR所測的損耗值并不是接續(xù)點(diǎn)的實(shí)際損耗值，其數(shù)值有正有負(fù)，一般用雙向測試值的算術(shù)平均值作為實(shí)際衰耗值。在接續(xù)時(shí)，一般用實(shí)時(shí)監(jiān)測法，基本能保證熔接損耗達(dá)到控制目標(biāo)，但經(jīng)常產(chǎn)生大損耗點(diǎn)的原因是在熔接完畢后進(jìn)行光纖收容時(shí)，部分光纖受壓或彎曲半徑過小，即形成一個(gè)大衰耗點(diǎn)。因?yàn)?550nm波長的光纖對微彎損耗非常敏感，光纖一旦受壓，即產(chǎn)生一個(gè)微彎點(diǎn)，或盤纖時(shí)，彎曲半徑過小，光纖信號在此處也產(chǎn)生較大的衰耗，表現(xiàn)在光纖后向散射曲線上，就形成了一個(gè)較大的衰耗臺(tái)階；另外，一個(gè)比較容易忽視的原因是921X光纜接頭盒組裝完成后，固定接頭盒和固定921X光纜時(shí)，由于921X光纜在接頭盒內(nèi)固定的不是很牢固，造成921X光纜擰轉(zhuǎn)，使光纖束管變形，由于光纖受壓，造成光纖衰耗值急劇增加，形成衰耗臺(tái)階。